磁粉探伤（Magneticparticleinspection，MPI）的操作方法多种多样，而通常来说这些方法都要符合操作测试规范。在许多情况下，这些规范都不会太过死板，无损检测人员在选择执行检测方法时都会保留一定的可能性。但是，我们要明白并不是所有的方法都能达到相同的效果。正如下文所解释的那样，这些方法不仅在易用性和执行时间上有差异，在对所能提供的测试结果细节的水平上也存在着一定的差距。
　　对于任何负责产品质量的人员来说，安全性和可靠性是其首要考虑的因素，那么如果在磁粉探伤方法上要进行取舍时，就一定会选择能够对产品提供可靠检测结果的操作方法。
　　当购买检测材料时，你可能想要更进一步了解到：
　　在测试工件上用于创建磁场的电流类型
　　用于执行测试的介质或颗粒类型
　　在本文中，我们对同一待测工件执行了三种不同的磁粉探伤方法，同时对这三种方法进行比较。
　　这三种方法都满足基本规范要求并且能够实际操作。它们分别是：

　　1，交流电（AC）磁轭可见光干式磁粉探伤
　　2，在一个水平实验室装置上采用全波直流（FWDC）可见光干式磁粉探伤
　　3，在一个水平实验室装置上采用全波直流（FWDC）荧光湿式磁粉探伤
　　由于在干式磁粉探伤法中使用的是散粉，因此相较于湿式荧光磁粉探伤，这个过程的工作量更大且所需时间更长。更重要的是，干式磁粉探伤法也没有荧光磁粉探伤法敏感。
　　下面的例子是按照我们在实验室处理的实际顺序给出的。按照要求我们对同一个工件使用以上提到的两种不同的干式磁粉技术进行检测。虽然要求使用干式磁粉是很常见的，但是基于同一个工件使用两种不同的干式磁粉探伤法进行检测的要求则不太常见。检测结果使我们感到惊讶，随后我们决定结合FWDC实验室装置，使用荧光湿式磁粉技术对同一工件进行检测，结束后进行结果的比较。
　　交流电（AC）磁轭可见光干式磁粉探伤
　　初次检测的结果是：仅在测试工件的一个锻造区域发现了一个较为明显的表面缺陷（锻造圈）。事实上这些缺陷较为严重，使用肉眼进行目视检测就能够发现。在工件的加工区域我们没有发现磁痕现象。

　　在一个水平实验室装置上采用全波直流（FWDC）可见光干式磁粉探伤
　　这种检测方式较为特殊，平时并不常用，所以我们首先关心的是保护荧光装置，并尽可能保护可见颗粒免受污染。
　　说实话，我们并没有预见到两种方法在检测结果上会有明显的差异。我们确信之前观察到的表面缺陷（锻造圈）会再次被检测到，除此之外我们还有了新发现：与锻造区不同，工件的加工区域表现出了很好的质量，而更出乎意料的是（这也是进行无损检测工作的一种乐趣），我们居然在整个测试工件的加工区域发现了夹杂物的多重线性痕迹。使用AC磁轭可见光干式磁粉技术并没有发现这些痕迹，这可能对工件会存在潜在的伤害，具体主要取决于其应用领域。
　　我们的结论是：由于在实验室装置上使用了不同的电流，从而发现了更详细的检测结果，这是因为DC电流比AC电流的穿透深度更深。尽管AC电流可以成功地检测出表面缺陷，但是DC电流可以找出更深、更隐蔽的缺陷，比如我们发现的这些夹杂物。
　　在一个水平实验室装置上采用全波直流（FWDC）荧光湿式磁粉探伤
　　正如预期的那样，在锻造区域的缺陷很容易地被再次检测到。同样，在加工区域的多元线性夹杂物痕迹更为明显，较之于先前干式磁粉检测，这个痕迹要更为稠密。
　　由于在实验室装置上所进行的两次测试条件是完全相同的，因此我们认为荧光湿式磁粉检测所得到的结果要更为明显，更突出了检测区域的痕迹。可见光干式磁粉探伤和荧光湿式磁粉探伤都是通过在监测工件表面覆盖细氧化铁颗粒并施加磁场进行的，但其应用和检测的进程不同。干式磁粉是用手涂敷并去除的，因此可能会发生一些人为的失误，同时其结果是通过标准白光观察得到的。荧光法允许使用液池中更小的颗粒，从而使其更好地流入到较小的漏磁场中，同时，在一个黑暗的检测区域进行评估，其荧光的颜色可以提供更好的可见性指示。
　　由上可见，在不指定具体磁粉探伤操作方法时，荧光湿式磁粉探伤法的灵敏度要优于可见光干式磁粉探伤法。荧光湿式磁粉探伤法有助于确保得到有关材料和产品可靠的检测结果。如果需要使用可见光干式磁粉探伤，那么使用HWDC装置同样也是保证准确检测结果的好选择。